Quantitative Charakterisierung der Gefüge-Anisotropie einer stranggepressten TiAl-Legierung

Peter, D.; Pfetzing, J.; Wagner, M.F.-X.; Somsen, C.; Pesicka, J.; Skrotzki, B.; Eggeler, G.

doi:10.3139/147.100380

Quantitative Charakterisierung der Gefüge-Anisotropie einer stranggepressten TiAl-Legierung (bibtex)

by D. Peter, J. Pfetzing, M.F.-X. Wagner, C. Somsen, J. Pesicka, B. Skrotzki, G. Eggeler

Abstract:

In dieser Arbeit werden quantitative mikrostrukturelle Untersuchungen am Duplex-Gefüge einer stranggepressten intermetallischen γ-Titanaluminidlegierung der 3. Generation (TNBV5) diskutiert. Die Mikrostruktur wurde in raster- und transmissionselektronenmikroskopischen Untersuchungen von senkrecht und parallel zur Strangpressrichtung entnommenem Probenmaterial charakterisiert. Es erfolgten eine Bestimmung der Kornflächen lamellarer und globularer Körner, eine Bestimmung des Anteils lamellarer Kolonien sowie eine Analyse des Anteils der verzwillingten γ-Körner. Zudem wurde eine Zeiligkeit der lamellaren Kolonien in Strangpressrichtung nachgewiesen und der mittlere Grenzflächenabstand der lamellaren Bereiche bestimmt. In ersten Kriechversuchen an unterschiedlich orientierten Proben wurde der Einfluss der Gefüge-Anisotropie auf das Kriechverhalten dieser Legierung dokumentiert. Die hier ausführlich beschriebenen metallographischen Methoden ermöglichen eine quantitative Analyse des Einflusses mikrostruktureller Anisotropien auf die mechanischen Eigenschaften und das Kriechverhalten von Titan-Aluminiden

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Reference:

Peter, D., Pfetzing, J., Wagner, M.F.-X., Somsen, C., Pesicka, J., Skrotzki, B., Eggeler, G.: Quantitative Charakterisierung der Gefüge-Anisotropie einer stranggepressten TiAl-Legierung, Practical Metallography 45, 210-224, 2008.

Bibtex Entry:

@Article{Peter2008,
  Title                    = {{Quantitative Charakterisierung der Gef\"{u}ge-Anisotropie einer stranggepressten TiAl-Legierung}},
  Author                   = {Peter, D. and Pfetzing, J. and Wagner, M.F.-X. and Somsen, C. and Pesicka, J. and Skrotzki, B. and Eggeler, G.},
  Journal                  = {Practical Metallography},
  Year                     = {2008},
  Number                   = {5},
  Pages                    = {210--224},
  Volume                   = {45},

  Abstract                 = {In dieser Arbeit werden quantitative mikrostrukturelle Untersuchungen am Duplex-Gef\"{u}ge einer stranggepressten intermetallischen γ-Titanaluminidlegierung der 3. Generation (TNBV5) diskutiert. Die Mikrostruktur wurde in raster- und transmissionselektronenmikroskopischen Untersuchungen von senkrecht und parallel zur Strangpressrichtung entnommenem Probenmaterial charakterisiert. Es erfolgten eine Bestimmung der Kornfl\"{a}chen lamellarer und globularer K\"{o}rner, eine Bestimmung des Anteils lamellarer Kolonien sowie eine Analyse des Anteils der verzwillingten γ-K\"{o}rner. Zudem wurde eine Zeiligkeit der lamellaren Kolonien in Strangpressrichtung nachgewiesen und der mittlere Grenzfl\"{a}chenabstand der lamellaren Bereiche bestimmt. In ersten Kriechversuchen an unterschiedlich orientierten Proben wurde der Einfluss der Gef\"{u}ge-Anisotropie auf das Kriechverhalten dieser Legierung dokumentiert. Die hier ausf\"{u}hrlich beschriebenen metallographischen Methoden erm\"{o}glichen eine quantitative Analyse des Einflusses mikrostruktureller Anisotropien auf die mechanischen Eigenschaften und das Kriechverhalten von Titan-Aluminiden},
  Doi                      = {10.3139/147.100380},
  ISSN                     = {0032-678X},
  Url                      = {http://www.hanser-elibrary.com/doi/abs/10.3139/147.100380}
}